技術(shù)難度高且市場(chǎng)規(guī)模大

這些探針臺(tái)通常集成了先進(jìn)的自動(dòng)化功能?精密的溫度控制?服務(wù) 于半導(dǎo)體行業(yè)中的高端測(cè)試需求，如集成電路(IC)?微處理器和 射頻器件的測(cè)試，市場(chǎng)空間大，但技術(shù)門檻也很高?

技術(shù)難度高且市場(chǎng)規(guī)模小

這類探針臺(tái)專門用于特定的科研或小眾工業(yè)應(yīng)用，如材料科學(xué)研 究?特殊環(huán)境下的測(cè)試等。盡管市場(chǎng)需求有限，但對(duì)測(cè)試精度和 環(huán)境控制的要求極高?因此技術(shù)難度大?

技術(shù)難度低且市場(chǎng)規(guī)模大

這些探針臺(tái)通常設(shè)計(jì)簡單?易于操作?適用于常規(guī)的測(cè)試任務(wù)， 如簡單的集成電路測(cè)試和顯示面板測(cè)試。由于其較低的技術(shù)門檻 和廣泛的應(yīng)用范圍?這類產(chǎn)品的市場(chǎng)規(guī)模相對(duì)較大?

技術(shù)難度低且市場(chǎng)規(guī)模小

這些探針臺(tái)可能只適用于特定的小眾測(cè)試需求?或者是在技術(shù)上 較為落后的模型。由于技術(shù)含量不高，且應(yīng)用范圍有限?其市場(chǎng) 規(guī)模自然較小?

技術(shù)難度居中且市場(chǎng)規(guī)模居中

這類探針臺(tái)結(jié)合了一定的自動(dòng)化功能和中等水平的測(cè)試精度?適 用于中等復(fù)雜度的測(cè)試任務(wù)，如功率電子器件的測(cè)試。它們既有 一定的技術(shù)門檻?也具有一定的市場(chǎng)接受度?